陶瓷針規(guī)因為它是一種精密陶瓷,所以對精度要求極高,對氧化鋯陶瓷針規(guī)的檢驗方法就相當重要,并且不同標稱尺寸針規(guī)有不同的檢驗方法,下面科眾陶瓷廠將介紹陶瓷針規(guī)的檢驗方法。
陶瓷針規(guī)又稱陶瓷塞規(guī)、陶瓷通止規(guī),主要用于測量孔的尺寸、孔的距離、孔深、可做通止規(guī)使用。針規(guī)有公制針規(guī)、英制針規(guī)等。針規(guī)是孔的標準化檢測必備工具,并廣范用于電子板、線路板、模具、精密機械制造等各種高精尖技術(shù)領(lǐng)域。
針規(guī)
針規(guī)的技術(shù)參數(shù):粗糙度≤0.20um;熱處理HRC60~63;材料:釔穩(wěn)定氧化鋯材質(zhì)。我廠可以定做各種非標針規(guī)。
陶瓷針規(guī)
針規(guī)的檢測方法可以在高精度的測長儀上進行直接測量,或在接觸式干涉儀上進行比較測量,也可以用立式光學計或臥式光學計進行直接測量或比較測量 。
對于標稱尺寸小于 lmm,最大允許誤差小于±1um的針規(guī),檢測直徑時,最好用高精度的測長儀進行直接測量。因為在接觸式干涉儀上用比較法進行檢測時,要將量塊和針規(guī)研合在一起,而針規(guī)太細,不太容易和量塊研合 ,如果是帶柄的針規(guī),就更不容易和量塊研合了。
對于標稱尺寸在1~10mm范圍內(nèi),最大允許誤差大于±1um的針規(guī),檢測直徑時,最好用臥式光學計,而不用立式光學計,因為檢測針規(guī)的直徑至少要在三個截面上,尤其在檢測針規(guī)兩頭的截面直徑時,很容易放置不平穩(wěn),造成讀數(shù)不可靠。而用臥式光學計,使針規(guī)豎放,容易保持平穩(wěn)。
對于標稱尺寸大于10mm,最大允許誤差大于±1um的針規(guī),可以用立式光學計進行檢測。針規(guī)一般是由硬合金材料制造,有一定的自重,在檢測過程中要比尺寸小的針規(guī)容易放置平穩(wěn)。
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本文“不同標稱尺寸的陶瓷針規(guī)檢測方式介紹”由科眾陶瓷編輯整理,修訂時間:2022-12-27 14:48:24
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